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Lohr, Sharon L.

Muestreo : diseño y análisis / Sharon L. Lohr, Oscar Alfredo Palmas Velasco - México : Thomson, 2000. - 480 p. ;

ISBN: 9706860177

Subjects--Topical Terms:
1.Muestreo (Estadística)

LC Class. No.: HA31.2 L657m CP

Dewey Class. No.: 519.52 / L833m